可程式周期穩(wěn)定冷熱沖擊試驗(yàn)箱
簡要描述:可程式周期穩(wěn)定冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測試工具。
產(chǎn)品型號: TSD-80F-2P
所屬分類:二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2024-07-02
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
可程式周期穩(wěn)定冷熱沖擊試驗(yàn)箱
用途:
該設(shè)備主要是測試產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬高溫、低溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試:
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;
2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;
3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收;
4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;
5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
技術(shù)參數(shù)
皓天冷熱沖擊試驗(yàn)箱圖片:
可程式周期穩(wěn)定冷熱沖擊試驗(yàn)箱
樣品隔層架對試驗(yàn)物的承重量:2.5kg以內(nèi),如有超重的測試物請下單時(shí)注明。
高溫上升時(shí)間約:40min
低溫下降時(shí)間約:80min
高溫槽溫度zui高可儲(chǔ)存至:60℃~200℃
低溫槽溫度zui低可儲(chǔ)存至:-70℃~-10℃
溫度移動(dòng)沖擊時(shí)間在:10秒鐘內(nèi)
溫度沖擊恢復(fù)穩(wěn)定時(shí)間在:3~5分鐘內(nèi)
此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分,測試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),
強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū),完成冷熱溫度沖擊測試。